设备类型：MP50

设备参数：

温度范围：室温～300℃;测量原理：通过投射光强度变化自动判定熔点和熔程，反射光观察和记录样品融化过程；升温速率：0.1～20℃/min，无梯度升温，最小刻度0.1℃/min；测量准确性：30～200℃，±0.2℃，200～最高温度±0.5℃；
加热至最高温度时间：不多于4min；冷却时间：不大于6.5min（由最高温度降到室温）；最多同时可测样品数：4个；显示屏：彩色触摸屏；具备中/英等多种操作语言；

设备品牌：梅特勒

设备用途：主要通过测定加热过程中样品透光率的变化自动判定样品的熔点和熔程，用于项目中天然产物样品成分辨认与纯度测定。